Cristin-resultat-ID: 1065415
Sist endret: 14. november 2013, 09:10
Resultat
Vitenskapelig foredrag
2013

Systematic characterization of key parameters of hermetic waferlevel Cu-Sn SLID bonding

Bidragsytere:
  • H. J. van de Wiel
  • Astrid-Sofie Borge Vardøy
  • G. Hayes
  • M.H.M. Kouters
  • Adri van der Waal
  • M. Erinc
  • mfl.

Presentasjon

Navn på arrangementet: European Microelectronics and Packaging Conference
Sted: Grenoble
Dato fra: 9. september 2013
Dato til: 12. september 2013

Arrangør:

Arrangørnavn: iMAPS

Om resultatet

Vitenskapelig foredrag
Publiseringsår: 2013

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Systematic characterization of key parameters of hermetic waferlevel Cu-Sn SLID bonding

Bidragsytere

H. J. van de Wiel

  • Tilknyttet:
    Forfatter

Astrid-Sofie Borge Vardøy

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Smart Sensor Systems ved SINTEF AS

G. Hayes

  • Tilknyttet:
    Forfatter

M.H.M. Kouters

  • Tilknyttet:
    Forfatter

Adri van der Waal

  • Tilknyttet:
    Forfatter
1 - 5 av 10 | Neste | Siste »