Info
Meny
English
Logg inn
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Historikk
Cristin-resultat-ID:
1065415
Sist endret:
14. november 2013, 09:10
Resultat
Vitenskapelig foredrag
2013
Systematic characterization of key parameters of hermetic waferlevel Cu-Sn SLID bonding
H. J. van de Wiel
Astrid-Sofie Borge Vardøy
G. Hayes
M.H.M. Kouters
Adri van der Waal
M. Erinc
mfl.
Presentasjon
Presentasjon
Navn på arrangementet: European Microelectronics and Packaging Conference
Sted: Grenoble
Dato fra:
9. september 2013
Dato til:
12. september 2013
Arrangør:
Arrangørnavn: iMAPS
Om resultatet
Om resultatet
Vitenskapelig foredrag
Publiseringsår: 2013
Beskrivelse
Beskrivelse
Engelsk
Tittel
Systematic characterization of key parameters of hermetic waferlevel Cu-Sn SLID bonding
Bidragsytere
Bidragsytere
H. J. van de Wiel
Forfatter
Astrid-Sofie Borge Vardøy
Forfatter
ved Smart Sensors and Microsystems ved SINTEF AS
G. Hayes
Forfatter
M.H.M. Kouters
Forfatter
Adri van der Waal
Forfatter
1
-
5
av
10
|
Neste
|
Siste »