Cristin-resultat-ID: 1762361
Sist endret: 18. desember 2019 10:38
Resultat
Rapport
2019

Assessment of feature engineering and long short-term memory for structure loss identification from process data in monocrystalline silicon growth by the Czochralski method

Bidragsytere:
  • Øyvind Sunde Sortland
  • Mohammed M'hamdi og
  • Moez Jomâa

Utgiver/serie

Utgiver

Department of Materials Science and Engineering, NTNU

Om resultatet

Rapport
Publiseringsår: 2019
Antall sider: 16
Open Access

Klassifisering

Fagfelt (NPI)

Fagfelt: Materialteknologi
- Fagområde: Realfag og teknologi

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Assessment of feature engineering and long short-term memory for structure loss identification from process data in monocrystalline silicon growth by the Czochralski method

Bidragsytere

Øyvind Sunde Sortland

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for materialteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Mohammed M'hamdi

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for materialteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Metallproduksjon og prosessering ved SINTEF AS

Moez Jomâa

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Metallproduksjon og prosessering ved SINTEF AS
1 - 3 av 3