Info
Meny
English
Logg inn
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Historikk
Cristin-resultat-ID:
1762361
Sist endret:
18. desember 2019 10:38
Resultat
Rapport
2019
Assessment of feature engineering and long short-term memory for structure loss identification from process data in monocrystalline silicon growth by the Czochralski method
Øyvind Sunde Sortland
Mohammed M'hamdi
og
Moez Jomâa
Utgiver/serie
Utgiver/serie
Utgiver
Department of Materials Science and Engineering, NTNU
Om resultatet
Om resultatet
Rapport
Publiseringsår: 2019
Antall sider: 16
Open Access
Lenker
Lenker
Institusjonsarkiv
hdl.handle.net/11250/2634087
Klassifisering
Klassifisering
Fagfelt (NPI)
Fagfelt: Materialteknologi
- Fagområde: Realfag og teknologi
Beskrivelse
Beskrivelse
Engelsk
Tittel
Assessment of feature engineering and long short-term memory for structure loss identification from process data in monocrystalline silicon growth by the Czochralski method
Bidragsytere
Bidragsytere
Øyvind Sunde Sortland
Forfatter
ved Institutt for materialteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Mohammed M'hamdi
Forfatter
ved Institutt for materialteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Forfatter
ved Metallproduksjon og prosessering ved SINTEF AS
Moez Jomâa
Forfatter
ved Metallproduksjon og prosessering ved SINTEF AS
1
-
3
av
3