Historikk

Cristin-resultat-ID: 1762361

Sist endret: 18. desember 2019, 10:38

Resultat

Rapport

2019

Assessment of feature engineering and long short-term memory for structure loss identification from process data in monocrystalline silicon growth by the Czochralski method

Øyvind Sunde Sortland
Mohammed M'hamdi og
Moez Jomâa

Utgiver/serie Utgiver/serie

Utgiver

Department of Materials Science and Engineering, NTNU

Om resultatet Om resultatet

Rapport

Publiseringsår: 2019

Antall sider: 16

Open Access

Lenker Lenker

Institusjonsarkiv

hdl.handle.net/11250/2634087

Klassifisering Klassifisering

Fagfelt (NPI)

Fagfelt: Materialteknologi

- Fagområde: Realfag og teknologi

Beskrivelse Beskrivelse

Engelsk

Tittel

Assessment of feature engineering and long short-term memory for structure loss identification from process data in monocrystalline silicon growth by the Czochralski method

Bidragsytere Bidragsytere

Øyvind Sunde Sortland

Forfatter
ved Institutt for materialteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Mohammed M'hamdi

Forfatter
ved Institutt for materialteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Forfatter
ved Metallproduksjon og prosessering ved SINTEF AS

Moez Jomâa

Forfatter
ved Metallproduksjon og prosessering ved SINTEF AS

1 - 3 av 3