Cristin-resultat-ID: 1850873
Sist endret: 26. januar 2021, 15:07
NVI-rapporteringsår: 2020
Resultat
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
2020

Characterization of Polysilicon Microstructures to Estimate Local Temperature on CMOS Chips

Bidragsytere:
  • Avisek Roy
  • Luca Marchetti
  • Mehdi Azadmehr
  • Philipp Häfliger
  • Bao Quoc Ta og
  • Knut Aasmundtveit

Bok

Om resultatet

Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
Publiseringsår: 2020
Antall sider: 5
ISBN:
  • 978-1-7281-6293-5

Klassifisering

Fagfelt (NPI)

Fagfelt: Elektronikk og kybernetikk
- Fagområde: Realfag og teknologi

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Characterization of Polysilicon Microstructures to Estimate Local Temperature on CMOS Chips

Bidragsytere

Avisek Roy

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for mikrosystemer ved Universitetet i Sørøst-Norge

Luca Marchetti

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for mikrosystemer ved Universitetet i Sørøst-Norge

Mehdi Azadmehr

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for mikrosystemer ved Universitetet i Sørøst-Norge

Philipp Dominik Häfliger

Bidragsyterens navn vises på dette resultatet som Philipp Häfliger
  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Forskningsgruppen for nanoelektronikksystemer ved Universitetet i Oslo

Bao Quoc Ta

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for mikrosystemer ved Universitetet i Sørøst-Norge
1 - 5 av 6 | Neste | Siste »

Resultatet er en del av Resultatet er en del av

2020 IEEE 8th Electronics System-Integration Technology Conference (ESTC).

Aasmundtveit, Knut; Imenes, Kristin; Svasta, Paul M.. 2020, IEEE. USN, UPDBVitenskapelig antologi/Konferanseserie
1 - 1 av 1