Cristin-resultat-ID: 1899565
Sist endret: 19. mars 2021, 23:30
Resultat
Vitenskapelig artikkel
2001

Microelectronics Technologies Scaling and Reliability A Comparison Study for High Temperature and Radiation Hard Applications

Bidragsytere:
  • Ovidiu Vermesan
  • Lars-Cyril Blystad
  • Hanne Grindvoll
  • Geir Uri Jensen og
  • Berit Sundby Avset

Tidsskrift

HiTEN
ISSN 2380-4491

Om resultatet

Vitenskapelig artikkel
Publiseringsår: 2001
Trykket: 2001

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Microelectronics Technologies Scaling and Reliability A Comparison Study for High Temperature and Radiation Hard Applications

Bidragsytere

Ovidiu Vermesan

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Software and Service Innovation ved SINTEF AS

Lars-Cyril Blystad

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for mikrosystemer ved Universitetet i Sørøst-Norge
  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Software and Service Innovation ved SINTEF AS

Hanne Grindvoll

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Software and Service Innovation ved SINTEF AS

Geir Uri Jensen

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Microsystems and Nanotechnology ved SINTEF AS

Berit Sundby Avset

  • Tilknyttet:
    Forfatter
1 - 5 av 5