Cristin-resultat-ID: 1971953
Sist endret: 14. april 2023, 12:05
NVI-rapporteringsår: 2021
Resultat
Vitenskapelig artikkel
2021

Fast and Accurate Deep Learning Framework for Secure Fault Diagnosis in the Industrial Internet of Things

Bidragsytere:
  • Youcef Djenouri
  • Asma Belhadi
  • Gautam Srivastava
  • Uttam Ghosh
  • Pushpita Chatterjee og
  • Jerry Chun-Wei Lin

Tidsskrift

IEEE Internet of Things Journal
ISSN 2327-4662
NVI-nivå 2
Finn i kanalregisteret

Om resultatet

Vitenskapelig artikkel
Publiseringsår: 2021
Publisert online: 2021
Volum: 10
Hefte: 4
Sider: 2802 - 2810
Open Access

Lenker

original online (doi)

Importkilder

Scopus-ID: 2-s2.0-85113205124

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Fast and Accurate Deep Learning Framework for Secure Fault Diagnosis in the Industrial Internet of Things

Bidragsytere

Youcef Djenouri

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Mathematics and Cybernetics ved SINTEF AS

Asma Belhadi

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved School of Economics, Innovation, and Technology ved Høyskolen Kristiania

Gautam Srivastava

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved China Medical University School of Medicine
  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Brandon University

Uttam Ghosh

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Vanderbilt University

Pushpita Chatterjee

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Ton Duc Thang University
1 - 5 av 6 | Neste | Siste »