Info
Meny
English
Logg inn
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Historikk
Cristin-resultat-ID:
1187759
Sist endret:
19. desember 2014, 14:13
Resultat
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
2012
Pilot Scale Measurements of NO Emissions from the Silicon Process
Nils Eivind Kamfjord
Halvard Tveit
og
Ingeborg Solheim
Bok
Bok
3rd International Symposium on High Temperature Metallurgical Processing
ISBN:
978-1-11829-141-2
Utgiver
John Wiley & Sons
NVI-nivå 1
Finn i kanalregisteret
Om resultatet
Om resultatet
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
Publiseringsår: 2012
Sider: 411 - 418
ISBN:
978-1-11829-141-2
Lenker
Lenker
original online (doi)
https://doi.org/10.1002/9781118364987.ch50
ORIA
Søk i ORIA med 978-1-11829-141-2
Beskrivelse
Beskrivelse
Engelsk
Tittel
Pilot Scale Measurements of NO Emissions from the Silicon Process
Bidragsytere
Bidragsytere
Nils Eivind Kamfjord
Forfatter
ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Forfatter
Halvard Tveit
Forfatter
ved Institutt for materialteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Ingeborg Solheim
Forfatter
ved Metallproduksjon og prosessering ved SINTEF AS
1
-
3
av
3
Resultatet er en del av
Resultatet er en del av
3rd International Symposium on High Temperature Metallurgical Processing.
Jiang, Tao et.al.. 2012, John Wiley & Sons.
Vitenskapelig antologi/Konferanseserie
1
-
1
av
1