Cristin-resultat-ID: 1235590
Sist endret: 6. april 2015, 15:42
Resultat
Vitenskapelig artikkel
1992

Characterization of surface flatness by the backscattered electron coeffisient

Bidragsytere:
  • Nikolai Ushakov og
  • S. Zaitsev

Tidsskrift

Semiconductor Science and Technology
ISSN 0268-1242
e-ISSN 1361-6641
NVI-nivå 1
Finn i kanalregisteret

Om resultatet

Vitenskapelig artikkel
Publiseringsår: 1992
Volum: 7

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Characterization of surface flatness by the backscattered electron coeffisient

Bidragsytere

Nikolay Ushakov

Bidragsyterens navn vises på dette resultatet som Nikolai Ushakov
  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for matematiske fag ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

S. Zaitsev

  • Tilknyttet:
    Forfatter
1 - 2 av 2