Info
Meny
English
Logg inn
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Historikk
Cristin-resultat-ID:
1375258
Sist endret:
27. oktober 2016, 21:33
Resultat
Faglig foredrag
2016
Measured Linearity Improvement of 10 W GaN HEMT PA with Dynamic Gate Biasing Technique for Flat Transfer Phase
Dragan Gecan
Morten Olavsbråten
og
Karl Martin Gjertsen
Presentasjon
Presentasjon
Navn på arrangementet: IMS
Sted: San Francisco
Dato fra:
22. juli 2016
Dato til:
27. juli 2016
Arrangør:
Arrangørnavn: IEEE
Om resultatet
Om resultatet
Faglig foredrag
Publiseringsår: 2016
Beskrivelse
Beskrivelse
Engelsk
Tittel
Measured Linearity Improvement of 10 W GaN HEMT PA with Dynamic Gate Biasing Technique for Flat Transfer Phase
Bidragsytere
Bidragsytere
Dragan Gecan
Forfatter
ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Morten Olavsbråten
Forfatter
ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Karl Martin Gjertsen
Forfatter
1
-
3
av
3