Info
Meny
English
Logg inn
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Historikk
Cristin-resultat-ID:
1398826
Sist endret:
28. november 2016, 14:05
NVI-rapporteringsår:
2016
Resultat
Vitenskapelig artikkel
2016
Improving the short circuit ruggedness of IGBTs
Lukas Tinschert
Magnar Hernes
og
Josef Lutz
Tidsskrift
Tidsskrift
Microelectronics and reliability
ISSN 0026-2714
e-ISSN 1872-941X
NVI-nivå 1
Finn i kanalregisteret
Om resultatet
Om resultatet
Vitenskapelig artikkel
Publiseringsår: 2016
Publisert online: 2016
Trykket: 2016
Volum: 64
Sider: 519 - 523
Lenker
Lenker
original online (doi)
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2016.07.140
Importkilder
Importkilder
Scopus-ID: 2-s2.0-84991705133
Beskrivelse
Beskrivelse
Engelsk
Tittel
Improving the short circuit ruggedness of IGBTs
Sammendrag
The demands on reliable and fault tolerant power electronic devices are increasing. One opportunity to increase the IGBT short circuit ruggedness is to modify the thermal capacitance and the thermal resistance close to the chip and hence extend the possible short circuit duration. Therefore simulations with different metallization, bond wire and chip interconnect materials are compared to identify the most promising solution for enhancing short circuit capability of IGBTs. © 2016 Elsevier Ltd
Vis
fullstendig beskrivelse
Bidragsytere
Bidragsytere
Lukas Tinschert
Forfatter
ved Technische Universität Chemnitz
Magnar Hernes
Forfatter
ved Energisystemer ved SINTEF Energi AS
Josef Lutz
Forfatter
ved Technische Universität Chemnitz
1
-
3
av
3
Tilknyttede prosjekter
Tilknyttede prosjekter
Reliability and ruggedness of high power high voltage power electronics (ReliPE)
Magnar Hernes + 4 deltakere
SINTEF Energi AS
4 resultater
Avsluttet prosjekt
1
-
1
av
1