Cristin-resultat-ID: 1437765
Sist endret: 2. juni 2017, 13:53
Resultat
Poster
2016

Defects in multicrystalline Si wafers studied by spectral photoluminescence imaging, combined with EBSD and dislocation mapping

Bidragsytere:
  • Torbjørn Mehl
  • Marisa Di Sabatino Lundberg
  • Krzysztof Adamczyk
  • Ingunn Burud og
  • Espen Olsen

Presentasjon

Navn på arrangementet: SiliconPV 2016
Sted: Chambéry
Dato fra: 7. mars 2016
Dato til: 9. mars 2016

Om resultatet

Poster
Publiseringsår: 2016

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Defects in multicrystalline Si wafers studied by spectral photoluminescence imaging, combined with EBSD and dislocation mapping

Bidragsytere

Torbjørn Mehl

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Realfag og teknologi ved Norges miljø- og biovitenskapelige universitet

Marisa Di Sabatino

Bidragsyterens navn vises på dette resultatet som Marisa Di Sabatino Lundberg
  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for materialteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Krzysztof Jan Adamczyk

Bidragsyterens navn vises på dette resultatet som Krzysztof Adamczyk
  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for materialteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Ingunn Burud

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Realfag og teknologi ved Norges miljø- og biovitenskapelige universitet

Espen Olsen

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Realfag og teknologi ved Norges miljø- og biovitenskapelige universitet
1 - 5 av 5