Info
Meny
English
Logg inn
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Historikk
Cristin-resultat-ID:
1437765
Sist endret:
2. juni 2017, 13:53
Resultat
Poster
2016
Defects in multicrystalline Si wafers studied by spectral photoluminescence imaging, combined with EBSD and dislocation mapping
Torbjørn Mehl
Marisa Di Sabatino Lundberg
Krzysztof Adamczyk
Ingunn Burud
og
Espen Olsen
Presentasjon
Presentasjon
Navn på arrangementet: SiliconPV 2016
Sted: Chambéry
Dato fra:
7. mars 2016
Dato til:
9. mars 2016
Om resultatet
Om resultatet
Poster
Publiseringsår: 2016
Beskrivelse
Beskrivelse
Engelsk
Tittel
Defects in multicrystalline Si wafers studied by spectral photoluminescence imaging, combined with EBSD and dislocation mapping
Bidragsytere
Bidragsytere
Torbjørn Mehl
Forfatter
ved Realfag og teknologi ved Norges miljø- og biovitenskapelige universitet
Marisa Di Sabatino
Bidragsyterens navn vises på dette resultatet som Marisa Di Sabatino Lundberg
Forfatter
ved Institutt for materialteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Krzysztof Jan Adamczyk
Bidragsyterens navn vises på dette resultatet som Krzysztof Adamczyk
Forfatter
ved Institutt for materialteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Ingunn Burud
Forfatter
ved Realfag og teknologi ved Norges miljø- og biovitenskapelige universitet
Espen Olsen
Forfatter
ved Realfag og teknologi ved Norges miljø- og biovitenskapelige universitet
1
-
5
av
5