Cristin-resultat-ID: 1504502
Sist endret: 8. februar 2019, 11:12
NVI-rapporteringsår: 2018
Resultat
Vitenskapelig artikkel
2018

Fast and robust common-reflection-surface parameter estimation

Bidragsytere:
  • Anders Ueland Waldeland
  • Hao Zhao
  • J. H. Faccipieri
  • Anne H Schistad Solberg og
  • Leiv-J. Gelius

Tidsskrift

Geophysics
ISSN 0016-8033
e-ISSN 1942-2156
NVI-nivå 2

Om resultatet

Vitenskapelig artikkel
Publiseringsår: 2018
Publisert online: 2017
Trykket: 2018
Volum: 83
Hefte: 1
Sider: O1 - O13
Open Access

Importkilder

Scopus-ID: 2-s2.0-85035000876

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Fast and robust common-reflection-surface parameter estimation

Sammendrag

The common-reflection-surface (CRS) method offers a stack with higher signal-to-noise ratio at the cost of a time-consuming semblance search to obtain the stacking parameters. We have developed a fast method for extracting the CRS parameters using local slope and curvature. We estimate the slope and curvature with the gradient structure tensor and quadratic structure tensor on stacked data. This is done under the assumption that a stacking velocity is already available. Our method was compared with an existing slope-based method, in which the slope is extracted from prestack data. An experiment on synthetic data shows that our method has increased robustness against noise compared with the existing method. When applied to two real data sets, our method achieves accuracy comparable with the pragmatic and full semblance searches. Our method has the advantage of being approximately two and four orders of magnitude faster than the semblance searches.

Bidragsytere

Anders Ueland Waldeland

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Forskningsgruppen for digital signalbehandling og bildeanalyse ved Universitetet i Oslo

Hao Zhao

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for geofag ved Universitetet i Oslo

J. H. Faccipieri

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Universidade Estadual de Campinas

Anne H Schistad Solberg

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Forskningsgruppen for digital signalbehandling og bildeanalyse ved Universitetet i Oslo

Leiv Jacob Gelius

Bidragsyterens navn vises på dette resultatet som Leiv-J. Gelius
  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for geofag ved Universitetet i Oslo
1 - 5 av 5