Cristin-resultat-ID: 1709862
Sist endret: 27. januar 2023, 14:56
Resultat
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
2019

A likelihood ratio classifier for histogram features

Bidragsytere:
  • Raymond N.J. Veldhuis
  • Kiran Raja og
  • Raghavendra Ramachandra

Bok

2018 IEEE 9th International Conference on Biometrics Theory, Applications and Systems (BTAS 2018): Redondo Beach, California, USA 22-25 October 2018
ISBN:
  • 978-1-5386-7180-1

Utgiver

IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers)
NVI-nivå 1

Serie

IEEE International Conference on Biometrics, Theory, Applications and Systems
ISSN 2474-9680
e-ISSN 2474-9699
NVI-nivå 0

Om resultatet

Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
Publiseringsår: 2019
Hefte: 2018
Antall sider: 8
ISBN:
  • 978-1-5386-7180-1

Importkilder

Scopus-ID: 2-s2.0-85065448438

Klassifisering

Fagfelt (NPI)

Fagfelt: IKT
- Fagområde: Realfag og teknologi

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

A likelihood ratio classifier for histogram features

Sammendrag

In a number of classification problems, the features are represented by histograms. Traditionally, histograms are compared by relatively simple distance measures such as the chi-square, the Kullback-Leibler, or the Euclidean distance. This paper proposes a likelihood ratio classifier for histogram features that is optimal in Neyman-Pearson sense. It is based on the assumptions that histograms can be modelled by a multinomial distribution and the bin probabilities of the histograms by a Dirichlet probability density. A simple method to estimate the Dirichlet parameters is included. Feature selection prior to classification improves the classification performance. Classification results are presented on periocular and face data from various datasets. It is shown that the proposed classifier out-performs the chi-square distance measure.

Bidragsytere

Raymond N.J. Veldhuis

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Universiteit Twente

Kiran Bylappa Raja

Bidragsyterens navn vises på dette resultatet som Kiran Raja
  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for realfag og industrisystemer ved Universitetet i Sørøst-Norge
  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for informasjonssikkerhet og kommunikasjonsteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Raghavendra Ramachandra

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for informasjonssikkerhet og kommunikasjonsteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1 - 3 av 3

Resultatet er en del av Resultatet er en del av

2018 IEEE 9th International Conference on Biometrics Theory, Applications and Systems (BTAS 2018): Redondo Beach, California, USA 22-25 October 2018 .

IEEE, .. 2019, IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers). Vitenskapelig antologi/Konferanseserie
1 - 1 av 1