Info
Meny
English
Logg inn
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Historikk
Cristin-resultat-ID:
171422
Sist endret:
21. oktober 2013, 12:14
Resultat
Vitenskapelig foredrag
1998
Measurements of spatial resolution of EBSP in the SEM as a function of atomic number and high voltage
Tanja Pettersen
Gustav Heiberg
og
Jarle Hjelen
Presentasjon
Presentasjon
Navn på arrangementet: The 14th International Congress on Electron Microscopy, Symp- osium M
Sted: Cancun, Mexico
Arrangør:
Arrangørnavn: [Mangler data]
Om resultatet
Om resultatet
Vitenskapelig foredrag
Publiseringsår: 1998
Importkilder
Importkilder
Bibsys-ID: r98026859
Beskrivelse
Beskrivelse
Engelsk
Tittel
Measurements of spatial resolution of EBSP in the SEM as a function of atomic number and high voltage
Bidragsytere
Bidragsytere
Tanja Pettersen
Forfatter
ved Institutt for materialteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Gustav Heiberg
Forfatter
Jarle Hjelen
Forfatter
ved Institutt for materialteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1
-
3
av
3