Cristin-resultat-ID: 171422
Sist endret: 21. oktober 2013, 12:14
Resultat
Vitenskapelig foredrag
1998

Measurements of spatial resolution of EBSP in the SEM as a function of atomic number and high voltage

Bidragsytere:
  • Tanja Pettersen
  • Gustav Heiberg og
  • Jarle Hjelen

Presentasjon

Navn på arrangementet: The 14th International Congress on Electron Microscopy, Symp- osium M
Sted: Cancun, Mexico

Arrangør:

Arrangørnavn: [Mangler data]

Om resultatet

Vitenskapelig foredrag
Publiseringsår: 1998

Importkilder

Bibsys-ID: r98026859

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Measurements of spatial resolution of EBSP in the SEM as a function of atomic number and high voltage

Bidragsytere

Tanja Pettersen

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for materialteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Gustav Heiberg

  • Tilknyttet:
    Forfatter

Jarle Hjelen

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for materialteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1 - 3 av 3