Cristin-resultat-ID: 1788312
Sist endret: 31. januar 2020, 13:56
Resultat
Poster
2019

A study of light and elevated temperature induced degradation in mc-si wafers by hyperspectral Photoluminescence imaging

Bidragsytere:
  • Jon-Fredrik Blakstad Cappelen
  • Espen Olsen
  • Torbjørn Mehl
  • Rune Søndenå og
  • Ingunn Burud

Presentasjon

Navn på arrangementet: Norwegian Solar Cell Conference (NSCC) 2019
Sted: Son
Dato fra: 20. mai 2019
Dato til: 21. mai 2019

Arrangør:

Arrangørnavn: SUSOLTECH

Om resultatet

Poster
Publiseringsår: 2019

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

A study of light and elevated temperature induced degradation in mc-si wafers by hyperspectral Photoluminescence imaging

Bidragsytere

Jon-Fredrik Blakstad Cappelen

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for fysikk ved Norges miljø- og biovitenskapelige universitet

Espen Olsen

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for fysikk ved Norges miljø- og biovitenskapelige universitet

Torbjørn Mehl

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for fysikk ved Norges miljø- og biovitenskapelige universitet

Rune Søndenå

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Solenergi ved Institutt for energiteknikk

Ingunn Burud

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for fysikk ved Norges miljø- og biovitenskapelige universitet
1 - 5 av 5