Info
Meny
English
Logg inn
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Historikk
Cristin-resultat-ID:
2110926
Sist endret:
19. januar 2023, 21:05
Resultat
Vitenskapelig foredrag
2022
Failure Analysis of Fabrication Process in Hermetic Wafer-level Packaging for Microbolometer Focal Plane Arrays
Hexin Xia
Avisek Roy
Hoang-Vu Nguyen
Zekija Ramic
Knut Eilif Aasmundtveit
og
Per Øhlckers
Presentasjon
Presentasjon
Navn på arrangementet: 33rd European Symposium on Reliability of Electron Devices Failure Physics and Analysis
Dato fra:
26. september 2022
Dato til:
29. september 2022
Om resultatet
Om resultatet
Vitenskapelig foredrag
Publiseringsår: 2022
Beskrivelse
Beskrivelse
Engelsk
Tittel
Failure Analysis of Fabrication Process in Hermetic Wafer-level Packaging for Microbolometer Focal Plane Arrays
Bidragsytere
Bidragsytere
Hexin Xia
Forfatter
ved Institutt for mikrosystemer ved Universitetet i Sørøst-Norge
Avisek Roy
Forfatter
ved Institutt for mikrosystemer ved Universitetet i Sørøst-Norge
Hoang Vu Nguyen
Bidragsyterens navn vises på dette resultatet som Hoang-Vu Nguyen
Forfatter
ved Institutt for mikrosystemer ved Universitetet i Sørøst-Norge
Zekija Ramic
Forfatter
ved Institutt for mikrosystemer ved Universitetet i Sørøst-Norge
Knut Eilif Aasmundtveit
Forfatter
ved Institutt for fysikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1
-
5
av
6
|
Neste
|
Siste »