Cristin-resultat-ID: 2127319
Sist endret: 22. mars 2024, 11:05
NVI-rapporteringsår: 2023
Resultat
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
2023

Smart Grid challenges - Device Trustworthiness

Bidragsytere:
  • Andrè Jung Waltoft-Olsen
  • Lasse Øverlier
  • Geir Olav Dyrkolbotn og
  • Arvind Sharma

Bok

Proceedings of the 34th Norwegian ICT conference for research and education – NIKT 2022
ISBN:
  • 978-3-16-148410-0

Utgiver

OpenProceedings
NVI-nivå 1
Finn i kanalregisteret

Serie

NIKT: Norsk IKT-konferanse for forskning og utdanning
ISSN 1892-0713
e-ISSN 1892-0721
NVI-nivå 1
Finn i kanalregisteret

Om resultatet

Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
Publiseringsår: 2023
Hefte: 3
Sider: 1 - 16
ISBN:
  • 978-3-16-148410-0

Klassifisering

Fagfelt (NPI)

Fagfelt: IKT
- Fagområde: Realfag og teknologi

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Smart Grid challenges - Device Trustworthiness

Bidragsytere

André Jung Waltoft-Olsen

Bidragsyterens navn vises på dette resultatet som Andrè Jung Waltoft-Olsen
  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for informasjonssikkerhet og kommunikasjonsteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Statnett

Lasse Øverlier

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for informasjonssikkerhet og kommunikasjonsteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Geir Olav Dyrkolbotn

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for informasjonssikkerhet og kommunikasjonsteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Arvind Sharma

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for informasjonssikkerhet og kommunikasjonsteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1 - 4 av 4

Resultatet er en del av Resultatet er en del av

Proceedings of the 34th Norwegian ICT conference for research and education – NIKT 2022.

Eikebrokk, Tom Roar; Moe, Carl Erik; Oleshchuk, Vladimir. 2023, OpenProceedings. UIAVitenskapelig antologi/Konferanseserie
1 - 1 av 1