Info
Meny
English
Logg inn
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Historikk
Cristin-resultat-ID:
2242212
Sist endret:
21. februar 2024, 11:17
NVI-rapporteringsår:
2023
Resultat
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
2023
Randomized Bulk-Voltages: A Countermeasure to Mask Side-Channel Leakage of CMOS Logic Gates
Magnus Amble
Snorre Aunet
Dag Trygve Eckhoff Wisland
og
Kristian Gjertsen Kjelgård
Bok
Bok
Proceedings,2023 IEEE 66th International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS)
ISBN:
979-8-3503-0210-3
Utgiver
IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers)
NVI-nivå 1
Finn i kanalregisteret
Serie
The Midwest Symposium on Circuits and Systems conference proceedings
ISSN 1548-3746
e-ISSN 1558-3899
NVI-nivå 1
Finn i kanalregisteret
Om resultatet
Om resultatet
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
Publiseringsår: 2023
Hefte: 2023
Sider: 708 - 712
ISBN:
979-8-3503-0210-3
Lenker
Lenker
original online (doi)
https://doi.org/10.1109/MWSCAS57524.2023.10406067
ORIA
Søk i ORIA med 979-8-3503-0210-3
Klassifisering
Klassifisering
Fagfelt (NPI)
Fagfelt: IKT
- Fagområde: Realfag og teknologi
Beskrivelse
Beskrivelse
Engelsk
Tittel
Randomized Bulk-Voltages: A Countermeasure to Mask Side-Channel Leakage of CMOS Logic Gates
Bidragsytere
Bidragsytere
Magnus Amble
Forfatter
ved Forskningsgruppen for nanoelektronikksystemer ved Universitetet i Oslo
Snorre Aunet
Forfatter
ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Forfatter
ved Forskningsgruppen for nanoelektronikksystemer ved Universitetet i Oslo
Dag Trygve Eckhoff Wisland
Forfatter
ved Forskningsgruppen for nanoelektronikksystemer ved Universitetet i Oslo
Kristian Gjertsen Kjelgård
Forfatter
ved Forskningsgruppen for nanoelektronikksystemer ved Universitetet i Oslo
1
-
4
av
4
Resultatet er en del av
Resultatet er en del av
Proceedings,2023 IEEE 66th International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS).
Setti, Gianluca; Manganaro, M.. 2023, IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers). UNIFE
Vitenskapelig antologi/Konferanseserie
1
-
1
av
1