Cristin-resultat-ID: 2242212
Sist endret: 21. februar 2024, 11:17
NVI-rapporteringsår: 2023
Resultat
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
2023

Randomized Bulk-Voltages: A Countermeasure to Mask Side-Channel Leakage of CMOS Logic Gates

Bidragsytere:
  • Magnus Amble
  • Snorre Aunet
  • Dag Trygve Eckhoff Wisland og
  • Kristian Gjertsen Kjelgård

Bok

Proceedings,2023 IEEE 66th International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS)
ISBN:
  • 979-8-3503-0210-3

Utgiver

IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers)
NVI-nivå 1

Serie

The Midwest Symposium on Circuits and Systems conference proceedings
ISSN 1548-3746
e-ISSN 1558-3899
NVI-nivå 1

Om resultatet

Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
Publiseringsår: 2023
Hefte: 2023
Sider: 708 - 712
ISBN:
  • 979-8-3503-0210-3

Klassifisering

Fagfelt (NPI)

Fagfelt: IKT
- Fagområde: Realfag og teknologi

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Randomized Bulk-Voltages: A Countermeasure to Mask Side-Channel Leakage of CMOS Logic Gates

Bidragsytere

Magnus Amble

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Forskningsgruppen for nanoelektronikksystemer ved Universitetet i Oslo

Snorre Aunet

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Forskningsgruppen for nanoelektronikksystemer ved Universitetet i Oslo

Dag Trygve Eckhoff Wisland

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Forskningsgruppen for nanoelektronikksystemer ved Universitetet i Oslo

Kristian Gjertsen Kjelgård

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Forskningsgruppen for nanoelektronikksystemer ved Universitetet i Oslo
1 - 4 av 4

Resultatet er en del av Resultatet er en del av

Proceedings,2023 IEEE 66th International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS).

Setti, Gianluca; Manganaro, M.. 2023, IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers). UNIFEVitenskapelig antologi/Konferanseserie
1 - 1 av 1