Cristin-resultat-ID: 338214
Sist endret: 14. januar 2009, 19:54
NVI-rapporteringsår: 2008
Resultat
Vitenskapelig artikkel
2008

A comparative analysis of structural defect formation in Si+ implanted and then plasma hydrogenated and in H+ implanted crystalline silicon

Bidragsytere:
  • Heidi Nordmark
  • Alexander Ulyashin
  • John C Walmsley og
  • Randi Holmestad

Tidsskrift

Solid State Phenomena
ISSN 1012-0394
e-ISSN 1662-9779
NVI-nivå 1
Finn i kanalregisteret

Om resultatet

Vitenskapelig artikkel
Publiseringsår: 2008
Volum: 131-133
Sider: 309 - 315

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

A comparative analysis of structural defect formation in Si+ implanted and then plasma hydrogenated and in H+ implanted crystalline silicon

Bidragsytere

Heidi Nordmark

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for fysikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Alexander Ulyashin

  • Tilknyttet:
    Forfatter

John Walmsley

Bidragsyterens navn vises på dette resultatet som John C Walmsley
  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved SINTEF AS
  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for fysikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Aktiv cristin-person

Randi Holmestad

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for fysikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1 - 4 av 4