Historikk

Cristin-resultat-ID: 347628

Sist endret: 9. mars 2012, 15:06

Resultat

Vitenskapelig artikkel

2010

Characterization of thin and ultrathin transparent conducting oxide (TCO) films and TCO-Si interfaces with XPS, TEM and ab initio modeling

Spyridon Diplas
Ole Martin Løvvik
Heidi Nordmark
Despoina Maria Kepaptsoglou
Joachim Seland Graff
Cecile Ladam
mfl.

Tidsskrift Tidsskrift

Surface and Interface Analysis

ISSN 0142-2421
e-ISSN 1096-9918

NVI-nivå 1

Finn i kanalregisteret

Om resultatet Om resultatet

Vitenskapelig artikkel

Publiseringsår: 2010

Volum: 42

Hefte: 6-7

Sider: 874 - 877

Lenker Lenker

original online (doi)

https://doi.org/10.1002/sia.3355

Importkilder Importkilder

Isi-ID: 000281149700092

Beskrivelse Beskrivelse

Engelsk

Tittel

Characterization of thin and ultrathin transparent conducting oxide (TCO) films and TCO-Si interfaces with XPS, TEM and ab initio modeling

Bidragsytere Bidragsytere

Spyridon Diplas

Forfatter
ved SINTEF Industri ved SINTEF AS

Ole Martin Løvvik

Forfatter
ved SINTEF Industri ved SINTEF AS
Forfatter
ved Strukturfysikk ved Universitetet i Oslo

Heidi Nordmark

Forfatter
ved SINTEF Industri ved SINTEF AS

Despoina Maria Kepaptsoglou

Forfatter
ved Strukturfysikk ved Universitetet i Oslo

Joachim Seland Graff

Forfatter
ved SINTEF Industri ved SINTEF AS

1 - 5 av 11 | Neste | Siste »