Cristin-resultat-ID: 365237
Sist endret: 28. januar 2008, 09:13
NVI-rapporteringsår: 2007
Resultat
Vitenskapelig artikkel
2007

XPS study of the electronic properties of the Ce/4H-SiC interface and the fromation of the SiO2/Ce2Si2O2O7/4H-SiC interface structure upon oxidation

Bidragsytere:
  • M Kildemo
  • Ulrike Grossner
  • Bengt Gunnar Svensson og
  • S. Raaen

Tidsskrift

Materials Science Forum
ISSN 0255-5476
e-ISSN 1662-9752
NVI-nivå 1
Finn i kanalregisteret

Om resultatet

Vitenskapelig artikkel
Publiseringsår: 2007
Volum: 556-557
Sider: 549 - 554

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

XPS study of the electronic properties of the Ce/4H-SiC interface and the fromation of the SiO2/Ce2Si2O2O7/4H-SiC interface structure upon oxidation

Bidragsytere

Morten Kildemo

Bidragsyterens navn vises på dette resultatet som M Kildemo
  • Tilknyttet:
    Forfatter

Ulrike Grossner

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Fysisk institutt ved Universitetet i Oslo

Bengt Gunnar Svensson

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Fysisk institutt ved Universitetet i Oslo

S. Raaen

  • Tilknyttet:
    Forfatter
1 - 4 av 4