Cristin-resultat-ID: 407398
Sist endret: 21. oktober 2013, 12:12
Resultat
Vitenskapelig artikkel
2003

Quantitative Convergent Beam Electron Diffraction Measurements of Low-Order Structure Factors in Copper

Bidragsytere:
  • Jesper Friis
  • Bin Jiang
  • John Spence og
  • Randi Holmestad

Tidsskrift

Microscopy and Microanalysis
ISSN 1431-9276
e-ISSN 1435-8115
NVI-nivå 1
Finn i kanalregisteret

Om resultatet

Vitenskapelig artikkel
Publiseringsår: 2003
Volum: 9
Sider: 379 - 389

Importkilder

Bibsys-ID: r04006958

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Quantitative Convergent Beam Electron Diffraction Measurements of Low-Order Structure Factors in Copper

Bidragsytere

Jesper Friis

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for fysikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Bin Jiang

  • Tilknyttet:
    Forfatter

John Spence

  • Tilknyttet:
    Forfatter
Aktiv cristin-person

Randi Holmestad

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for fysikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1 - 4 av 4