Cristin-resultat-ID: 408215
Sist endret: 21. oktober 2013, 12:12
Resultat
Vitenskapelig artikkel
2002

Experimental study of surface electronic properties of ECR-PECVD deposited a-C1-xNx:H films using UPS, XPS and spectroscopic ellipsometry

Bidragsytere:
  • Morten Kildemo og
  • Steinar Raaen

Tidsskrift

Journal of Non-Crystalline Solids
ISSN 0022-3093
e-ISSN 1873-4812
NVI-nivå 1
Finn i kanalregisteret

Om resultatet

Vitenskapelig artikkel
Publiseringsår: 2002
Volum: 299
Hefte: Part B
Sider: 912 - 916

Importkilder

Bibsys-ID: r02017292

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Experimental study of surface electronic properties of ECR-PECVD deposited a-C1-xNx:H films using UPS, XPS and spectroscopic ellipsometry

Bidragsytere

Morten Kildemo

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for fysikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Steinar Raaen

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for fysikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1 - 2 av 2