Info
Meny
English
Logg inn
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Historikk
Cristin-resultat-ID:
409252
Sist endret:
21. oktober 2013, 12:12
Resultat
Vitenskapelig artikkel
2001
Modeling of Transient High Dose-Rate Ionizing Radiation Effects in Bipolar Devices
Tor A Fjeldly
Yanqing Deng
Harold P. Hjalmarson
Arnoldo Muyshondt
Michael S. Shur
og
Trond Ytterdal
Tidsskrift
Tidsskrift
IEEE Transactions on Nuclear Science
ISSN 0018-9499
e-ISSN 1558-1578
NVI-nivå 1
Finn i kanalregisteret
Om resultatet
Om resultatet
Vitenskapelig artikkel
Publiseringsår: 2001
Volum: 48
Hefte: 5
Sider: 1721 - 1730
Importkilder
Importkilder
Bibsys-ID: r02000497
Beskrivelse
Beskrivelse
Engelsk
Tittel
Modeling of Transient High Dose-Rate Ionizing Radiation Effects in Bipolar Devices
Sammendrag
We have developed a dynamic model for photo-electric effect in bipolar devices exposed to a wide range of ionizing radiation intensities. We represent the stationary and dynamic photocurrents by current sources in parallel with each p-n-junction. These sources include the prompt photocurrent of the depletion regions, and the delayed response associated with the build-up and discharge of excess charge carriers in the quasi-neutral (q-n) regions adjacent to the junctions. The latter are described in terms of dynamic delay times for each q-n region, which can be represented by RC equivalent delay circuits. The model has been implemented in the circuit simulator AIM-Spice and has been verified by numerical simulations.
Vis
fullstendig beskrivelse
Bidragsytere
Bidragsytere
Tor A Fjeldly
Forfatter
ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Yanqing Deng
Forfatter
Harold P. Hjalmarson
Forfatter
Arnoldo Muyshondt
Forfatter
Michael S. Shur
Forfatter
1
-
5
av
6
|
Neste
|
Siste »