Cristin-resultat-ID: 409431
Sist endret: 21. oktober 2013, 12:12
Resultat
Vitenskapelig artikkel
2000

Investigation of half-wave method for birefringence or thickness measurements of a thick, uniaxial, anisotropic substrate by use of spectroscopic ellipsometry

Bidragsytere:
  • Morten Kildemo
  • M. Mooney
  • C. Sudre og
  • P. V. Kelley

Tidsskrift

Applied Optics
ISSN 0003-6935
e-ISSN 1539-4522
NVI-nivå 0
Finn i kanalregisteret

Om resultatet

Vitenskapelig artikkel
Publiseringsår: 2000
Volum: 39
Sider: 4649 - 4657

Importkilder

Bibsys-ID: r01104900

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Investigation of half-wave method for birefringence or thickness measurements of a thick, uniaxial, anisotropic substrate by use of spectroscopic ellipsometry

Bidragsytere

Morten Kildemo

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for fysikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

M. Mooney

  • Tilknyttet:
    Forfatter

C. Sudre

  • Tilknyttet:
    Forfatter

P. V. Kelley

  • Tilknyttet:
    Forfatter
1 - 4 av 4