Cristin-resultat-ID: 409433
Sist endret: 21. oktober 2013, 12:12
Resultat
Vitenskapelig artikkel
2000

Spectroscopic Fourier methods for thickness measurements of thick uniaxial wafers, with dispersive birefringence, using polarimetric techniques

Bidragsytere:
  • Ola Hunderi og
  • Morten Kildemo

Tidsskrift

Journal of Optics A: Pure and Applied Optics
ISSN 1464-4258
e-ISSN 1741-3567
NVI-nivå 1
Finn i kanalregisteret

Om resultatet

Vitenskapelig artikkel
Publiseringsår: 2000
Volum: 2
Sider: L33 - L37

Importkilder

Bibsys-ID: r01104889

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Spectroscopic Fourier methods for thickness measurements of thick uniaxial wafers, with dispersive birefringence, using polarimetric techniques

Bidragsytere

Ola Hunderi

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for fysikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Morten Kildemo

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for fysikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1 - 2 av 2