Cristin-resultat-ID: 49222
Sist endret: 9. mai 2008, 13:38
NVI-rapporteringsår: 2008
Resultat
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
2008

Defect Tolerance Inspired by Artificial Evolution

Bidragsytere:
  • Asbjørn Djupdal og
  • Pauline Haddow

Bok

IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI
ISBN:
  • 978-0-7695-3170-0

Utgiver

IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers)
NVI-nivå 1
Finn i kanalregisteret

Om resultatet

Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
Publiseringsår: 2008
Sider: 28 - 33
ISBN:
  • 978-0-7695-3170-0

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Defect Tolerance Inspired by Artificial Evolution

Bidragsytere

Asbjørn Djupdal

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for datateknologi og informatikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Pauline Catriona Haddow

Bidragsyterens navn vises på dette resultatet som Pauline Haddow
  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for datateknologi og informatikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1 - 2 av 2

Resultatet er en del av Resultatet er en del av

IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI.

Torres, Lionel; O'Connor, Ian; Benoit, Pascal; Mukherjee, Amar; Smailagic, Asim. 2008, IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers). Vitenskapelig antologi/Konferanseserie
1 - 1 av 1