Info
Meny
English
Logg inn
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Historikk
Cristin-resultat-ID:
49796
Sist endret:
11. februar 2008, 09:19
Resultat
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
2007
SEM/EBSD investigations of large sized silicon wafers
Morten Karlsen
Jarle Hjelen
og
Uwe Schubert
Bok
Bok
Scandem 2007 - Proceedings of 58th Annual Meeting of the Nordic Microscopy Society
ISBN:
978-951-22-8829-8
Utgiver
Nordic Microscopy Society
Om resultatet
Om resultatet
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
Publiseringsår: 2007
Sider: 80 - 81
ISBN:
978-951-22-8829-8
Lenker
Lenker
ORIA
Søk i ORIA med 978-951-22-8829-8
Beskrivelse
Beskrivelse
Engelsk
Tittel
SEM/EBSD investigations of large sized silicon wafers
Bidragsytere
Bidragsytere
Morten Karlsen
Forfatter
ved Institutt for materialteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Jarle Hjelen
Forfatter
ved Institutt for materialteknologi ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Uwe Schubert
Forfatter
1
-
3
av
3
Resultatet er en del av
Resultatet er en del av
Scandem 2007 - Proceedings of 58th Annual Meeting of the Nordic Microscopy Society.
Habermehl-Cwirzen, K.; Eskelinen, E.-L.; Cwirzen, A.. 2007,
Vitenskapelig antologi/Konferanseserie
1
-
1
av
1