Cristin-resultat-ID: 51907
Sist endret: 22. november 2007, 09:49
NVI-rapporteringsår: 2007
Resultat
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
2007

Defect Tolerant Ganged CMOS Minority Gate

Bidragsytere:
  • Asbjørn Djupdal og
  • Pauline Haddow

Bok

IEEE NORCHIP
ISBN:
  • 1-4244-1517-9

Utgiver

IEEE conference proceedings
NVI-nivå 1
Finn i kanalregisteret

Om resultatet

Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
Publiseringsår: 2007
Antall sider: 4
ISBN:
  • 1-4244-1517-9

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Defect Tolerant Ganged CMOS Minority Gate

Bidragsytere

Asbjørn Djupdal

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for datateknologi og informatikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Pauline Catriona Haddow

Bidragsyterens navn vises på dette resultatet som Pauline Haddow
  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for datateknologi og informatikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1 - 2 av 2

Resultatet er en del av Resultatet er en del av

IEEE NORCHIP.

Larsen, Torben. 2007, IEEE conference proceedings. Vitenskapelig antologi/Konferanseserie
1 - 1 av 1