Cristin-resultat-ID: 520462
Sist endret: 10. januar 2011, 12:20
Resultat
Vitenskapelig foredrag
2010

A Low-Offset Dynamic Comparator Using Bulk Biasing Technique in Digital 65nm CMOS Technology

Bidragsytere:
  • Ye Xu og
  • Trond Ytterdal

Presentasjon

Navn på arrangementet: 10th International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology (ICSICT 2010)
Sted: Shanghai
Dato fra: 1. november 2010
Dato til: 4. november 2010

Arrangør:

Arrangørnavn: IEEE

Om resultatet

Vitenskapelig foredrag
Publiseringsår: 2010

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

A Low-Offset Dynamic Comparator Using Bulk Biasing Technique in Digital 65nm CMOS Technology

Bidragsytere

Ye Xu

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Trond Ytterdal

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1 - 2 av 2