Info
Meny
English
Logg inn
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Historikk
Cristin-resultat-ID:
520462
Sist endret:
10. januar 2011, 12:20
Resultat
Vitenskapelig foredrag
2010
A Low-Offset Dynamic Comparator Using Bulk Biasing Technique in Digital 65nm CMOS Technology
Ye Xu
og
Trond Ytterdal
Presentasjon
Presentasjon
Navn på arrangementet: 10th International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology (ICSICT 2010)
Sted: Shanghai
Dato fra:
1. november 2010
Dato til:
4. november 2010
Arrangør:
Arrangørnavn: IEEE
Om resultatet
Om resultatet
Vitenskapelig foredrag
Publiseringsår: 2010
Beskrivelse
Beskrivelse
Engelsk
Tittel
A Low-Offset Dynamic Comparator Using Bulk Biasing Technique in Digital 65nm CMOS Technology
Bidragsytere
Bidragsytere
Ye Xu
Forfatter
ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Trond Ytterdal
Forfatter
ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1
-
2
av
2