Cristin-resultat-ID: 521421
Sist endret: 11. januar 2011, 09:41
Resultat
Vitenskapelig foredrag
2010

Polarimetric imaging of strain in multi crystalline silicon

Bidragsytere:
  • Lars Martin Sandvik Aas
  • Pål Gunnar Ellingsen og
  • Morten Kildemo

Presentasjon

Navn på arrangementet: The 5th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry
Sted: Albany, New York
Dato fra: 23. mai 2010
Dato til: 28. mai 2010

Arrangør:

Arrangørnavn: College of Nanoscale Science and Engineering, Albany

Om resultatet

Vitenskapelig foredrag
Publiseringsår: 2010

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Polarimetric imaging of strain in multi crystalline silicon

Bidragsytere

Lars Martin Sandvik Aas

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for fysikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Pål Gunnar Ellingsen

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for fysikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Morten Kildemo

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for fysikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1 - 3 av 3