Info
Meny
English
Logg inn
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Historikk
Cristin-resultat-ID:
64814
Sist endret:
21. oktober 2013, 12:14
Resultat
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
2003
Next Generation Laboratory - A solution for Remote Characterization of Analog Integrated Circuits
Carsten Wulff
Trond Ytterdal
Thomas Sæthre
og
Arne Skjelvan
Bok
Bok
Lab on the Web � Running Real Experiments via the Internet
ISBN:
0-471-41375-5
Utgiver
John Wiley & Sons
NVI-nivå 1
Finn i kanalregisteret
Om resultatet
Om resultatet
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
Publiseringsår: 2003
ISBN:
0-471-41375-5
Lenker
Lenker
ORIA
Søk i ORIA med 0-471-41375-5
Importkilder
Importkilder
Bibsys-ID: r03023706
Beskrivelse
Beskrivelse
Engelsk
Tittel
Next Generation Laboratory - A solution for Remote Characterization of Analog Integrated Circuits
Bidragsytere
Bidragsytere
Carsten Wulff
Forfatter
ved Fakultet for informasjonsteknologi og elektroteknikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Trond Ytterdal
Forfatter
ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Thomas Sæthre
Forfatter
ved Fakultet for informasjonsteknologi og elektroteknikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Arne Skjelvan
Forfatter
ved Fakultet for informasjonsteknologi og elektroteknikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1
-
4
av
4
Resultatet er en del av
Resultatet er en del av
Lab on the Web � Running Real Experiments via the Internet.
[Mangler etternavn], [Mangler fornavn]. 2003, John Wiley & Sons.
Fagbok
1
-
1
av
1