Cristin-resultat-ID: 64814
Sist endret: 21. oktober 2013, 12:14
Resultat
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
2003

Next Generation Laboratory - A solution for Remote Characterization of Analog Integrated Circuits

Bidragsytere:
  • Carsten Wulff
  • Trond Ytterdal
  • Thomas Sæthre og
  • Arne Skjelvan

Bok

Lab on the Web � Running Real Experiments via the Internet
ISBN:
  • 0-471-41375-5

Utgiver

John Wiley & Sons
NVI-nivå 1

Om resultatet

Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
Publiseringsår: 2003
ISBN:
  • 0-471-41375-5

Importkilder

Bibsys-ID: r03023706

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Next Generation Laboratory - A solution for Remote Characterization of Analog Integrated Circuits

Bidragsytere

Carsten Wulff

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Fakultet for informasjonsteknologi og elektroteknikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Trond Ytterdal

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Thomas Sæthre

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Fakultet for informasjonsteknologi og elektroteknikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Arne Skjelvan

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Fakultet for informasjonsteknologi og elektroteknikk ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1 - 4 av 4

Resultatet er en del av Resultatet er en del av

Lab on the Web � Running Real Experiments via the Internet.

[Mangler etternavn], [Mangler fornavn]. 2003, John Wiley & Sons. Fagbok
1 - 1 av 1