Info
Meny
English
Logg inn
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Historikk
Cristin-resultat-ID:
68579
Sist endret:
21. oktober 2013, 12:14
Resultat
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
2003
Next-Generation Laboratory: Solution for Remote Characterization of Analog Integrated Circuits
Carsten Wulff
Thomas Aas Sæthre
Arne Skjelvan
og
Trond Ytterdal
Bok
Bok
Lab on the Web
ISBN:
0-471-41375-5
Utgiver
Wiley
Om resultatet
Om resultatet
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
Publiseringsår: 2003
Sider: 145 - 174
ISBN:
0-471-41375-5
Lenker
Lenker
ORIA
Søk i ORIA med 0-471-41375-5
Beskrivelse
Beskrivelse
Engelsk
Tittel
Next-Generation Laboratory: Solution for Remote Characterization of Analog Integrated Circuits
Bidragsytere
Bidragsytere
Carsten Wulff
Forfatter
ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Thomas Aas Sæthre
Forfatter
Arne Skjelvan
Forfatter
Trond Ytterdal
Forfatter
ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1
-
4
av
4
Resultatet er en del av
Resultatet er en del av
Lab on the Web.
Fjeldly, Tor A. 2003, NTNU
Fagbok
1
-
1
av
1