Cristin-resultat-ID: 68579
Sist endret: 21. oktober 2013, 12:14
Resultat
Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
2003

Next-Generation Laboratory: Solution for Remote Characterization of Analog Integrated Circuits

Bidragsytere:
  • Carsten Wulff
  • Thomas Aas Sæthre
  • Arne Skjelvan og
  • Trond Ytterdal

Bok

Lab on the Web
ISBN:
  • 0-471-41375-5

Utgiver

Wiley

Om resultatet

Vitenskapelig Kapittel/Artikkel/Konferanseartikkel
Publiseringsår: 2003
Sider: 145 - 174
ISBN:
  • 0-471-41375-5

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Next-Generation Laboratory: Solution for Remote Characterization of Analog Integrated Circuits

Bidragsytere

Carsten Wulff

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet

Thomas Aas Sæthre

  • Tilknyttet:
    Forfatter

Arne Skjelvan

  • Tilknyttet:
    Forfatter

Trond Ytterdal

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1 - 4 av 4

Resultatet er en del av Resultatet er en del av

Lab on the Web.

Fjeldly, Tor A. 2003, NTNUFagbok
1 - 1 av 1