Info
Meny
English
Logg inn
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Søk etter prosjekter, resultater og personer
Historikk
Cristin-resultat-ID:
870460
Sist endret:
19. desember 2011, 17:41
Resultat
Vitenskapelig foredrag
2011
A Programmable BIST with Macro and Micro codes for Embedded SRAMs
Manikandan Palanichamy
Einar Johan Aas
og
Bjørn B. Larsen
Presentasjon
Presentasjon
Navn på arrangementet: 9th IEEE East-WESTest Design & Test Symposium
Sted: Sevastopol
Dato fra:
9. september 2011
Dato til:
12. september 2011
Arrangør:
Arrangørnavn: IEEE
Om resultatet
Om resultatet
Vitenskapelig foredrag
Publiseringsår: 2011
Beskrivelse
Beskrivelse
Engelsk
Tittel
A Programmable BIST with Macro and Micro codes for Embedded SRAMs
Sammendrag
This paper presents a programmable built-in selftest (PBIST) methodology for embedded SRAMs. The BIST logic adapts the test controller with micro code encoding technique in order to control test operation sequences. The macro codes are used to select any of seven MARCH algorithms, and detect different faults of the memory under test (MUT). This BIST supports both the test and normal operation modes. The experimental results show that this work gives 17-47% improved area overhead and 16-41% enhanced speed compared to three published results.
Vis
fullstendig beskrivelse
Bidragsytere
Bidragsytere
Manikandan Palanichamy
Forfatter
ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Einar Aas
Bidragsyterens navn vises på dette resultatet som Einar Johan Aas
Forfatter
ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
Bjørn Barstad Larsen
Bidragsyterens navn vises på dette resultatet som Bjørn B. Larsen
Forfatter
ved Institutt for elektroniske systemer ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet
1
-
3
av
3