Cristin-resultat-ID: 909830
Sist endret: 26. mars 2012, 10:35
Resultat
Populærvitenskapelig kapittel/artikkel
2011

Analysis of Some Effects of Possible Device Degradation over a 30 Year Lifespan

Bidragsytere:
  • Muhammad Tayyib
  • Tor Oskar Sætre
  • Ole-Morten Midtgård og
  • Jan Ove Odden

Bok

Om resultatet

Populærvitenskapelig kapittel/artikkel
Publiseringsår: 2011
Sider: 1437 - 1441
ISBN:
  • 3-936338-27-2

Klassifisering

Vitenskapsdisipliner

Annen materialteknologi

Emneord

Solceller

Beskrivelse Beskrivelse

Tittel

Analysis of Some Effects of Possible Device Degradation over a 30 Year Lifespan

Sammendrag

An important issue for the crystalline Si wafer based PV industry is the performance of the cells over a life span of 25 to 30 years. The present paper discusses the main sources of degradation with focus on the diffusion of elements in a wafer over a 30-year period, which may result in semiconductor device degradation. Some experimental results of accelerated tests are presented. It has been shown that the variations of the performance of solar cells as manufactured vary considerably, and that a large statistical sample is necessary in order to obtain good conclusions from such experiments.

Bidragsytere

Muhammad Tayyib

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for ingeniørvitenskap ved Universitetet i Agder

Tor Oskar Sætre

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for ingeniørvitenskap ved Universitetet i Agder

Ole-Morten Midtgård

  • Tilknyttet:
    Forfatter
    ved Institutt for ingeniørvitenskap ved Universitetet i Agder

Jan Ove Odden

  • Tilknyttet:
    Forfatter
1 - 4 av 4

Resultatet er en del av Resultatet er en del av

26th European Photovoltaic Solar Energy Conference, Proceedings of the International Conference held in Hamburg, Germany 5 - 9 September 2011.

Ossenbrink, H.; Jäger-Waldau, A.; Helm, P.. 2011, WIP. Vitenskapelig antologi/Konferanseserie
1 - 1 av 1